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IEC 62047-30:2017

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film

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Fecha edición:	2017-09-15 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores, 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos
CTN:	1449

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El libro en palabras del autor

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