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IEC 62047-32:2019

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Fecha edición: 2019-01-24
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN: 1449

El libro en palabras del autor

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