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IEC 62047-35:2019

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

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Fecha edición:	2019-11-22 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	1449
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 62047-35:2019

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El libro en palabras del autor

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