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IEC 62047-36:2019

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films

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Fecha edición:	2019-04-05 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos, 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	1449

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El libro en palabras del autor

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