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IEC 62047-49:2025

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers

Fecha edición: 2025-11-25
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN: 1449

El libro en palabras del autor

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