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IEC 62047-6:2009

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials

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Fecha edición: 2009-04-07
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN: 1449

El libro en palabras del autor

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