-50% de descuento* Si compras la misma norma UNE en distintos idiomas. * Dto. sobre el pvp inferior. Ver condiciones

IEC 62047-8:2011

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

Fecha edición: 2011-03-14
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN: 1449

El libro en palabras del autor

Ultricies magna feugiat malesuada sociosqu varius vivamus cubilia parturient, himenaeos vitae vehicula nam placerat netus urna platea, nostra rutrum felis mattis penatibus velit quisque.

Button
Preguntas frecuentes ¿Tienes alguna duda sobre nuestros productos?

Respuesta 2

Desde la web

Libros y normas

Más información