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IEC 62373-1:2020

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET

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Fecha edición:	2020-07-15 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés, Francés
ICS:	31.080.30 - Transistores
CTN:	1251

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El libro en palabras del autor

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