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IEC 62374-1:2010

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Fecha edición: 2010-09-29
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés, Francés
ICS: 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN: 1251

El libro en palabras del autor

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