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IEC 62899-503-1:2020

Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

Fecha edición: 2020-05-27
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 29.045 - Materiales semiconductores, 31.080.30 - Transistores
CTN: 8679

El libro en palabras del autor

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