Using Artificial Intelligence (AI) on ASTM standards and related intellectual property is prohibited. Violations will result in suspension of access.
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IEC 63011-3:2018
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 3: Model and measurement conditions of through-silicon via
| Fecha edición: |
2018-11-28
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | 1368 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 63011-3:2018 |
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