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IEC 63068-1:2019

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

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Fecha edición:	2019-01-30 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	1251

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El libro en palabras del autor

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