IEC 63150-1:2019
Semiconductor devices - Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment - Part 1: Arbitrary and random mechanical vibrations
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2019-05-10
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | 1251 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 63150-1:2019 |
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