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IEC 63185:2025 RLV

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method

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Fecha edición:	2025-03-19 En Vigor
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	33.120.30 - Conectores para frecuencias radioeléctricas
CTN:	1447
Anulaciones Normas	Anula a IEC 63185:2020
Otras Relaciones	Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 63185:2025

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El libro en palabras del autor

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