IEC TR 61967-1-1:2015
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1-1: General conditions and definitions - Near-field scan data exchange format
| Fecha edición: |
2015-08-28
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | 1368 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC TR 61967-1-1:2010 |










