IEC TS 62132-9:2014
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method
| Fecha edición: |
2014-08-21
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | 1368 |
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