-50% de descuento* Si compras la misma norma UNE en distintos idiomas. * Dto. sobre el pvp inferior. Ver condiciones

ISO 12406:2010

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of arsenic in silicon

Fecha edición: 2010-11-08
En Vigor
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 71.040.40 - Análisis químico
CTN: 54656

El libro en palabras del autor

Ultricies magna feugiat malesuada sociosqu varius vivamus cubilia parturient, himenaeos vitae vehicula nam placerat netus urna platea, nostra rutrum felis mattis penatibus velit quisque.

Button
Preguntas frecuentes ¿Tienes alguna duda sobre nuestros productos?

Respuesta 2

Desde la web

Libros y normas

Más información