ISO 14571:2020

This document specifies a method for non-destructive measurements of the thickness of conductive coatings on non-conductive base materials. This method is based on the principle of the sheet resistivity measurement and is applicable to any conductive coatings and layers of metal and semiconductor materials. In general, the probe has to be adjusted to the conductivity and the thickness of the respective application. However, this document focuses on metallic coatings on non-conductive base materials (e.g. copper on plastic substrates, printed circuit boards).

This method is also applicable to thickness measurements of conductive coatings on conductive base materials, if the resistivity of the coating and the base material is significantly different. However, this case is not considered in this document.

Le présent document spécifie une méthode de mesurages non destructifs de l’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité d’une plaque et elle est applicable à tous les revêtements conducteurs et couches de métaux et de matériaux semi-conducteurs. En général, le palpeur doit être ajusté à la conductivité et à l’épaisseur de l’application correspondante. Toutefois, le présent document est centré sur les revêtements métalliques appliqués sur des matériaux de base non conducteurs (par exemple, cuivre sur substrats en plastique, cartes de circuits imprimés).

Cette méthode est aussi applicable aux mesurages d’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base conducteurs, si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont nettement différentes. Cependant, ce cas n’est pas traité dans le présent document.