ISO 19830:2015
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
| Fecha edición: |
2015-11-05
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | 54662 |










