ISO 21222:2020
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
| Fecha edición: |
2020-01-29
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | 354756 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
