ISO 5618-2:2024
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for GaN crystal surface defects — Part 2: Method for determining etch pit density
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2024-04-30
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 81.060.30 - Cerámicas avanzadas |
| CTN: | 54756 |
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