ISO 5861:2024
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al Kα XPS instruments
| Fecha edición: |
2024-06-07
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | 54662 |
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