ISO/DIS 4508
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Guideline for the method and procedure for determining the temperature effects on AFM dimensional measurements
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2025-09-11
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | 354756 |
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