ISO/TS 10867:2019

Le présent document fournit des lignes directrices pour la caractérisation des nanotubes de carbone monofeuillet (SWCNT) en utilisant la spectroscopie de photoluminescence (PL) dans le proche infrarouge (NIR).

Il fournit une méthode pour la détermination des indices chiraux des SWCNT semi-conducteurs présents dans un échantillon et la mesure des intensités intégrées relatives des pics de PL.

La méthode peut être étendue pour estimer les concentrations massiques relatives des SWCNT semi-conducteurs présents dans un échantillon à partir des valeurs mesurées des intensités intégrées des pics de PL et de la connaissance de leur section efficace de PL.

This document gives guidelines for the characterization of single-wall carbon nanotubes (SWCNTs) using near infrared (NIR) photoluminescence (PL) spectroscopy.

It provides a measurement method for the determination of the chiral indices of the semi-conducting SWCNTs in a sample and their relative integrated PL intensities.

The method can be expanded to estimate the relative mass concentrations of semi-conducting SWCNTs in a sample from their measured integrated PL intensities and knowledge of their PL cross-sections.