UNE-EN 60191-6-19:2010
Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-19: Métodos de medida de deformación (warpage) de paquete a temperatura elevada y la deformación (warpage) máxima permisible (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)
| Fecha edición: |
2010-09-01
En Vigor
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|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2010-09-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60191-6-19:2010 Idéntica IEC 60191-6-19:2010 |
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