UNE-EN 60444-1/A1:1999
Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en PI. Parte 1: Método básico para la medida de la frecuencia de resonancia y de la resistencia de resonancia de los cristales de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en PI. (Ratificada por AENOR en abril de 2001).
| Aviso: | Las normas que son modificaciones no son documentos independientes y deben adquirirse con la norma a la que modifica. |
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| Fecha edición: |
2001-04-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2001-04-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | CTN 209/SC 49 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para el control y la selección de frecuencias |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60444-1:1997/A1:1999 Idéntica IEC 60444-1:1986/A1:1999 |
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Modificaciones Normas |
Modifica a UNE-EN 60444-1:1997 |
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