UNE-EN 60444-2:1997
Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo por la técnica de fase nula en los circuitos en pi. Parte 2: Método de decalaje de fase para la medida de la capacidad dinámica de las unidades de cristal de cuarzo. (Ratificada por AENOR en octubre de 1997.)
| Fecha edición: |
1997-10-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 1997-10-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | CTN 209/SC 49 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para el control y la selección de frecuencias |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60444-2:1997 Idéntica IEC 60444-2:1980 |
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