UNE-EN 60749-1:2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.
| Fecha edición: |
2004-05-28
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Español, Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749/A2:2002 Anula a UNE-EN 60749:2000 Anula a UNE-EN 60749/A1:2001 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 60749-1:2002 Idéntica EN 60749-1:2003 Idéntica IEC 60749-1:2002/CORR:2003 |
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