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UNE-EN 60749-14:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 14: Robustez de los terminales (integridad de los conectores).

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Fecha edición:	2004-06-11 En Vigor
Idiomas disponibles:	Español, Inglés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica EN 60749-14:2003 Idéntica IEC 60749-14:2003

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