UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia de la pastilla al cizallamiento.
| Aviso: | Las normas que son modificaciones no son documentos independientes y deben adquirirse con la norma a la que modifica. |
|---|---|
| Fecha edición: |
2011-01-19
En Vigor
|
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-19:2003/A1:2010 Idéntica IEC 60749-19:2003/A1:2010 |
|
Modificaciones Normas |
Modifica a UNE-EN 60749-19:2003 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
