UNE-EN 60749-23:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.
| Fecha edición: |
2005-03-16
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Español, Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-23:2004 Idéntica IEC 60749-23:2004 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 |
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