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UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (Ratificada por AENOR en enero de 2013.)

Aviso: Las normas que son modificaciones no son documentos independientes y deben adquirirse con la norma a la que modifica.
Fecha edición: 2013-01-01
En Vigor
Fecha de ratificación: 2013-01-01
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Equivalencia Internacional

Idéntica EN 60749-27:2006/A1:2012

Idéntica IEC 60749-27:2006/A1:2012

Modificaciones Normas

Modifica a UNE-EN 60749-27:2006

El libro en palabras del autor

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