UNE-EN 60749-35:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
| Fecha edición: |
2007-01-01
En Vigor
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|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2007-01-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-35:2006 Idéntica IEC 60749-35:2006 |
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