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UNE-EN 60749-38:2008

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de ensayo del error transitorio para dispositivos semiconductores con memoria. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2008.)

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Fecha edición:	2008-09-01 En Vigor
Fecha de ratificación:	2008-09-01
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica EN 60749-38:2008 Idéntica IEC 60749-38:2008

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El libro en palabras del autor

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