UNE-EN 60749-4:2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
| Fecha edición: |
2017-07-01
En Vigor
|
|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2017-07-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-4:2003 |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-4:2017 Idéntica IEC 60749-4:2017 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
