UNE-EN 60749-5:2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
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2017-08-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2017-08-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-5:2003 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-5:2017 Idéntica IEC 60749-5:2017 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN IEC 60749-5:2024 |
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