UNE-EN 62047-13:2012
Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 13: Métodos de medición del ensayo tipo de resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento para estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)
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2012-06-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2012-06-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62047-13:2012 Idéntica IEC 62047-13:2012 |
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