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UNE-EN 62047-2:2006

Dispositivos semiconductores. Parte 2: Dispositivos micro-electromecánicos. Métodos de ensayo de tensión de materiales de película fina (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

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Fecha edición:	2007-01-01 En Vigor
Fecha de ratificación:	2007-01-01
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica EN 62047-2:2006 Idéntica IEC 62047-2:2006

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El libro en palabras del autor

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