UNE-EN 62047-3:2006
Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
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¡RESERVA TU PLAZA AQUÍ!| Fecha edición: |
2007-01-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2007-01-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62047-3:2006 Idéntica IEC 62047-3:2006 |
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