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UNE-EN 62047-6:2010

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 4: Métodos de ensayo de la fatiga axial de los materiales de película. (Ratificada por AENOR en junio de 2010.)

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Fecha edición:	2010-06-01 En Vigor
Fecha de ratificación:	2010-06-01
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica EN 62047-6:2010 Idéntica IEC 62047-6:2009

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El libro en palabras del autor

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