UNE-EN 62132-1:2016
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)
| Fecha edición: |
2016-04-01
En Vigor
|
|---|---|
| Fecha de confirmación: | 2025-12-15 |
| Fecha de ratificación: | 2016-04-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 62132-1:2006 |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62132-1:2016 Idéntica IEC 62132-1:201X Idéntica IEC 62132-1:2015 |










