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UNE-EN 62132-8:2012

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)

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Fecha edición:	2012-11-01 En Vigor
Fecha de ratificación:	2012-11-01
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica IEC 62132-8:2012 Idéntica EN 62132-8:2012

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El libro en palabras del autor

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