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UNE-EN 62215-3:2013

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad del impulso. Parte 3: Método de inyección transitoria no sincronizada. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

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Fecha edición:	2013-11-01 En Vigor
Fecha de ratificación:	2013-11-01
Idiomas disponibles:	Inglés
ICS:	31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica
CTN:	CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
Equivalencia Internacional	Idéntica EN 62215-3:2013 Idéntica IEC 62215-3:2013

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El libro en palabras del autor

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