-50% de descuento* Si compras la misma norma UNE en distintos idiomas. * Dto. sobre el pvp inferior. Ver condiciones

UNE-EN 62418:2010

Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)

Fecha edición: 2010-10-01
En Vigor
Fecha de ratificación: 2010-10-01
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Equivalencia Internacional

Idéntica EN 62418:2010

Idéntica IEC 62418:2010

El libro en palabras del autor

Ultricies magna feugiat malesuada sociosqu varius vivamus cubilia parturient, himenaeos vitae vehicula nam placerat netus urna platea, nostra rutrum felis mattis penatibus velit quisque.

Button
Preguntas frecuentes ¿Tienes alguna duda sobre nuestros productos?

Respuesta 2

Desde la web

Libros y normas

Más información