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UNE-EN IEC 60749-17:2019

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

Fecha edición: 2019-06-01
En Vigor
Fecha de ratificación: 2019-06-01
Idiomas disponibles: Inglés
ICS: 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general
CTN: CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Anulaciones Normas

Anula a UNE-EN 60749-17:2003

Equivalencia Internacional

Idéntica EN IEC 60749-17:2019

Idéntica IEC 60749-17:2019

El libro en palabras del autor

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