UNE-EN IEC 60749-18:2019
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)
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2019-07-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2019-07-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-18:2003 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 60749-18:2019 Idéntica EN IEC 60749-18:2019 |
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