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UNE-EN IEC 60749-20-1:2026
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20-1: Manejo, empaquetado, etiquetado y transporte de los dispositivos con montaje en superficie que son sensibles a los efectos combinados de la humedad y al calentamiento de soldado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2026.)
| Fecha edición: |
2026-04-01
En Vigor
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|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2026-04-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-20-1:2026 |
|
Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 60749-20-1:2009 |
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