UNE-EN IEC 60749-22-1:2026
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22-1: Robustez de las uniones soldadas. Métodos de ensayo de tracción de unión por cable (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2026.)
| Fecha edición: |
2026-02-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2026-02-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-22-1:2026 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 60749-22:2004 |
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