UNE-EN IEC 60749-23:2026
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2026.)
| Fecha edición: |
2026-03-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2026-03-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 60749-23:2025 Idéntica EN IEC 60749-23:2026 |
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Otras Versiones Vigentes |
Conjunta UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Conjunta UNE-EN 60749-23:2005 |
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