UNE-EN IEC 60749-26:2018
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)
| Fecha edición: |
2018-05-01
En Vigor
|
|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2018-05-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
|
Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 60749-26:2014 |
|
Equivalencia Internacional |
Idéntica EN IEC 60749-26:2018 Idéntica IEC 60749-26:2018 |
Normas citadas
Libros relacionados
Normas relacionadas
Colecciones temáticas relacionadas
